地物光譜儀是雙利合譜研制的一款超便攜式高光譜成像儀器。其核心由三部分構成，分別是：多維運動控制器、光譜相機、以及成像鏡頭。使用此系統進行圖像采集掃描，在獲得目標影像信息的基礎上，還可以獲得數百甚至上千波段的光譜信息。
地物光譜儀的特點
一鍵實現自動曝光、自動調焦、自動掃描速度匹配、自動采集并保存數據
輔助取景攝像頭實現對拍攝區域的監控
內置電池，可連續工作4小時以上
數據預覽及校正功能：輻射度校正、反射率校正、區域校正、鏡頭校準、均勻性校準
鏡頭可更換
只需一根USB線實現連接通信
數據格式**兼容Evince、Envi、SpecSight等數據分析軟件
支持Win7~10-32位或64位系統
防塵等級IP5，防水等級IP1。（僅針對GaiaField-V10/V8和GaiaField-V10E/V8E系列）
規格參數表
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GaiaField--V8 |
GaiaField- V10 |
GaiaField-V8E |
GaiaField- V10E |
GaiaField- N17E |
GaiaField- N17E-HR |
GaiaField- N25E-XE |
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掃描方式 |
內置推掃 |
內置推掃 |
內置推掃 |
內置推掃 |
內置推掃 |
內置推掃 |
內置推掃 |
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光譜范圍 |
380-800nm |
400-1000nm |
V8E：380-800nm |
400-1000nm |
900-1700nm |
900-1700nm |
1000~2350nm |
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光譜分辨率 |
V8：3nm |
V10：4±0.5nm |
V8E：2nm |
V10E:2.8nm |
5nm |
5nm |
10nm |
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數值孔徑 |
F/2.8 |
F/2.8 |
F/2.4 |
F/2.4 |
F/2.0 |
F/2.0 |
F/2.0 |
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狹縫尺寸 |
30um*9.6mm |
30um*9.6mm |
30um*14.2mm |
30um*14.2mm |
30um*14.2mm |
30um*14.2mm |
30um*14.2mm |
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探測器 |
CCD |
CCD |
CCD |
CCD |
InGaAs |
InGaAs |
T2SL |
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像素數（空間維*光譜維） |
1392*1040 |
1392*1040 |
1392*1040 |
1392*1040 |
320*256 |
640*512 |
320*256 |
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光譜通道數 |
1X:1040 2X:520 4X:256(默認) 8X:128 |
1X:1040 2X:520 4X:256(默認) 8X:128 |
1X:1040 2X:520 4X:256(默認) 8X:128 |
1X:1040 2X:520 4X:256(默認) 8X:128 |
256 |
512 |
256 |
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動態范圍 |
14 bits |
14 bits |
14 bits |
14 bits |
14 bits |
14 bits |
14 bits |
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連接方式 |
USB 2.0 |
USB 2.0 |
USB 2.0 |
USB 2.0 |
USB2.0/Gige |
USB2.0/Gige |
USB 2.0 |
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視場角FOV（@23mm鏡頭） |
22°（@23mm鏡頭） |
22°（@23mm鏡頭） |
22°（@23mm鏡頭） |
22°（@23mm鏡頭） |
18°（@30mm鏡頭） |
24°（@30mm鏡頭） |
18°（@30mm鏡頭） |
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圖像空間分辨率（像素合并） |
696*700（2X） |
696*700（2X） |
696*700（2X） |
696*700（2X） |
320*400 |
640*700 |
320*400 |
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掃描速度 |
15s/cube |
15s/cube |
15s/cube |
15s/cube |
4s/cube |
8s/cube |
4s/cube |
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重量 |
2.8kg |
2.8kg |
3．8kg |
3．8kg |
6kg |
6kg |
8.5kg |
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內置電池 |
40Wh（工作時間>4小時） |
40Wh（工作時間>4小時） |
80Wh（工作時間>4小時） |
80Wh（工作時間>4小時） |
80Wh（工作時間>3小時） |
80Wh（工作時間>3小時） |
80Wh（工作時間>3小時） |
應用案例：
農作物氮處理試驗農田
說明：采集不同施氮水平小麥的光譜數據，檢測作物氮含量/葉綠素等農學指標，為農業**管理作技術支撐
作物病害檢測
通過構建不同的光譜指數，構建作物病害監測模型，用于預防檢測作物病害。其中HI:為健康指數（534 nm、698 nm、704 nm)；CLSI：角斑病指數(570 nm、698nm、734 nm)；PMI：白粉病指數(520 nm、584 nm、724 nm）；SBRI：甜菜銹指數(513 nm、570 nm、704 nm)
壁畫修復
說明：分別獲取運用成像高光譜設備獲取標準顏料和壁畫顏料的反射光譜，然后利用光譜角填圖（SAM）、波譜特征擬合分類法（SFF）及二進制編碼（BE）對波譜進行匹配與相似性計算，得到一個 0—1 的匹配度分值，總分值越高，則相似性越好，是該顏料的可能性更大，*后根據檢測結果模擬修復壁畫。
l礦區礦物識別
利用標準光譜庫里的礦物光譜，運用光譜角匹配等方法對圖像中的地物進行匹配，識別圖像中地物的類別。
